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直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

簡要描述:【無錫冠亞】半導(dǎo)體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

  • 產(chǎn)品型號:LTS-202
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-01-11
  • 訪  問  量:430
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞冷卻方式水冷式
價格區(qū)間10萬-50萬產(chǎn)地類別國產(chǎn)
儀器種類一體式應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車



無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導(dǎo)體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,

?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。




【 冠亞制冷 】半導(dǎo)體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品:

半導(dǎo)體專溫控設(shè)備

射流式?低溫沖擊測試機(jī)

半導(dǎo)體專用溫控設(shè)備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風(fēng)控溫裝置

半導(dǎo)體?低溫測試設(shè)備

電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩?/span>

射流式高低溫沖擊測試機(jī)

快速溫變控溫卡盤

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案


型號FLT-002FLT-003FLT-004FLT-006FLT-008FLT-010FLT-015
FLT-002WFLT-003WFLT-004WFLT-006WFLT-008WFLT-010WFLT-015W
溫度范圍5℃~40℃
控溫精度±0.1℃
流量控制  10~25L/min  5bar max15~45L/min  6bar max25~75L/min  6bar max
制冷量at10℃6kw8kw10kw15 kw20kw25kw40kw
內(nèi)循環(huán)液容積4L5L6L8L10L12L20L
膨脹罐容積10L10L15L15L20L25L35L
制冷劑R410A
載冷劑硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等  (DI溫度需要控制10℃以上)
進(jìn)出接口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG3/4ZG3/4ZG1ZG1
冷卻水口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG1ZG1ZG1ZG1 1/8
冷卻水流量at20℃1.5m3/h2m3/h2.5m3/h4m3/h4.5m3/h5.6m3/h9m3/h
電源380V3.5kW4kW5.5kW7kW9.5kW12kW16kW
溫度擴(kuò)展通過增加電加熱器,擴(kuò)展-25℃~80℃





直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備


射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。

溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率???焖?,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;

實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠(yuǎn)程控制

測試條件:環(huán)境溫度20℃,30m3/h,5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機(jī),?于滿?較?測試功率需求


  沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)是一種用于測試半導(dǎo)體器件在不同溫度下的性能表現(xiàn),這種測試機(jī)通常被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)和品質(zhì)控制等領(lǐng)域。

  一、沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)的應(yīng)用

  1、生產(chǎn)控制

  在半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中,需要對半導(dǎo)體器件進(jìn)行嚴(yán)格的測試,以確保其性能符合要求。沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)可以模擬不同溫度環(huán)境,從而對生產(chǎn)出的半導(dǎo)體器件進(jìn)行性能檢測。

  2、研發(fā)實驗

  在研發(fā)階段,沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)可以幫助科研人員在不同溫度環(huán)境下研究半導(dǎo)體的性能表現(xiàn),進(jìn)一步探索半導(dǎo)體的物理特性和應(yīng)用潛力。

  3、品質(zhì)控制

  在品質(zhì)控制環(huán)節(jié),沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)通過對半導(dǎo)體器件進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

  二、沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)的優(yōu)勢

  1、溫度范圍廣

  沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)可以模擬從低溫度到高溫度的環(huán)境,為半導(dǎo)體器件的性能測試提供了廣闊的溫度范圍。

  2、測試精度高

  沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)具有高精度的溫度控制和測試系統(tǒng),能夠準(zhǔn)確記錄和評估半導(dǎo)體器件在不同溫度下的性能數(shù)據(jù)。

  3、應(yīng)用范圍廣

沖擊系統(tǒng)快速溫變測試機(jī)不僅適用于半導(dǎo)體器件的性能測試,還可以應(yīng)用于其他材料和元器件的性能檢測。


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